Comparative study of CdTe and GaAs photorefractive performances from 1µm to 1.55µm
LAUNAY, Jean-Claude
Pôle de Recherche Aquitain pour les Matériaux dans l'Espace [PRAME]
Laboratoire de Chimie du Solide
Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux [ICMCB]
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Language
en
Article de revue
This item was published in
Optical Materials. 1995, vol. 4, n° 2-3, p. 233-236
Elsevier
English Abstract
We present a photorefractive investigation of the vanadium doped CdTe at different wavelengths from 1.06 μm to 1.55 μm. The sensitivity and performances of different samples grown with different conditions are deduced. We ...Read more >
We present a photorefractive investigation of the vanadium doped CdTe at different wavelengths from 1.06 μm to 1.55 μm. The sensitivity and performances of different samples grown with different conditions are deduced. We compare these performances with the ones of the undoped GaAs in the same wavelength rangeRead less <
Origin
Hal imported