Comparative study of CdTe and GaAs photorefractive performances from 1µm to 1.55µm
LAUNAY, Jean-Claude
Pôle de Recherche Aquitain pour les Matériaux dans l'Espace [PRAME]
Laboratoire de Chimie du Solide
Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux [ICMCB]
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Langue
en
Article de revue
Ce document a été publié dans
Optical Materials. 1995, vol. 4, n° 2-3, p. 233-236
Elsevier
Résumé en anglais
We present a photorefractive investigation of the vanadium doped CdTe at different wavelengths from 1.06 μm to 1.55 μm. The sensitivity and performances of different samples grown with different conditions are deduced. We ...Lire la suite >
We present a photorefractive investigation of the vanadium doped CdTe at different wavelengths from 1.06 μm to 1.55 μm. The sensitivity and performances of different samples grown with different conditions are deduced. We compare these performances with the ones of the undoped GaAs in the same wavelength range< Réduire
Origine
Importé de halUnités de recherche