Comparative study of CdTe and GaAs photorefractive performances from 1µm to 1.55µm
LAUNAY, Jean-Claude
Pôle de Recherche Aquitain pour les Matériaux dans l'Espace [PRAME]
Laboratoire de Chimie du Solide
Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux [ICMCB]
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LAUNAY, Jean-Claude
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Laboratoire de Chimie du Solide
Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux [ICMCB]
Idioma
en
Article de revue
Este ítem está publicado en
Optical Materials. 1995, vol. 4, n° 2-3, p. 233-236
Elsevier
Resumen en inglés
We present a photorefractive investigation of the vanadium doped CdTe at different wavelengths from 1.06 μm to 1.55 μm. The sensitivity and performances of different samples grown with different conditions are deduced. We ...Leer más >
We present a photorefractive investigation of the vanadium doped CdTe at different wavelengths from 1.06 μm to 1.55 μm. The sensitivity and performances of different samples grown with different conditions are deduced. We compare these performances with the ones of the undoped GaAs in the same wavelength range< Leer menos
Orígen
Importado de HalCentros de investigación