Fiabilité des diodes lasers DFB 1,55 µm pour des applications de télécommunication : approche statistique et interaction composant-système

Abstract

Ces travaux de thèse décrivent le développement et la mise en oeuvre d’une méthodologie d’estimation de la fiabilité à long terme d’une technologie stabilisée de diode laser à contre-réaction répartie (DFB) 1,55µm à couche active InGaAsP sur substrat InP pour des applications de télécommunication. Elle est basée sur la mesure de caractéristiques électriques et optiques analysées après l'application de contraintes de vieillissement combinant différents facteurs d’accélération. Une méthode de reconstruction statistique de distributions de durée de vie, basées sur les tirages de Monte-Carlo, a été mise en oeuvre pour palier à la faible population de composants et aux faibles variations paramétriques induites par les tests accélérés. Enfin, l'interaction composant-système est analysée par l'intermédiaire de simulations d'une liaison de télécommunication 4 canaux utilisant le multiplexage de longueurs d’onde (WDM) avec un débit 2,5 Gbits/s par canal. Ces simulations ont permis d'évaluer l'impact des dérives expérimentales sur les performances de ce type de liaison, en conditions opérationnelles, en prévision de futures architectures de réseaux métropolitains et locaux.