The system will be going down for regular maintenance. Please save your work and logout.
Optical Imaging and Characterization of Graphene and Other 2D Materials Using Quantitative Phase Microscopy
VIGNAUD, Dominique
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
See more >
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
VIGNAUD, Dominique
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
GALOPIN, Elisabeth
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
< Reduce
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Language
en
Article de revue
This item was published in
ACS photonics. 2017-12-20, vol. 4, n° 12, p. 3130 - 3139
American Chemical Society
Origin
Hal imported