Optical Imaging and Characterization of Graphene and Other 2D Materials Using Quantitative Phase Microscopy
VIGNAUD, Dominique
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
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Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
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VIGNAUD, Dominique
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EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
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GALOPIN, Elisabeth
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
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Idioma
en
Article de revue
Este ítem está publicado en
ACS photonics. 2017-12-20, vol. 4, n° 12, p. 3130 - 3139
American Chemical Society
Orígen
Importado de HalCentros de investigación