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Licence d’utilisation du document

BiCMOS thermal sensor circuit for built-in test purposes

ALTET, J.
Department of Electronic Engineering
RUBIO, A.
Department of Electronic Engineering
DILHAIRE, S.
Centre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
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Langue
en
Article de revue
Ce document a été publié dans
Electronics Letters. 1998-01-25, vol. 34, n° 13, p. 1307-1309
IET
Résumé en anglais
New difficulties have arisen in integrated circuit (IC) testing due to trends in technological development. Alternatives to traditional circuit testing techniques are appearing, such as thermal testing. The authors present ...Lire la suite >
DOI
Origine
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