Quantitative thermoreflectance imaging: calibration method and validation on a dedicated intragrated circuit.
CRETIN, B.
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
VAIRAC, P.
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
VOLZ, S.
Centre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
Laboratoire d'Énergétique Moléculaire et Macroscopique, Combustion [EM2C]
< Reduce
Centre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
Laboratoire d'Énergétique Moléculaire et Macroscopique, Combustion [EM2C]
Language
en
Communication dans un congrès
This item was published in
11th International Workshop on THERMAL INVESTIGATIONS OF ICs an Systems, 11th International Workshop on THERMAL INVESTIGATIONS OF ICs an Systems, 2005-09-19. 2005-09-19p. 290-293
TIMA Editions
Origin
Hal imported