High yield grafting of carbon nanotube on ultra-sharp silicon nanotips: Mechanical characterization and AFM imaging
LEGRAND, Bernard
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
BUCHAILLOT, L.
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
< Réduire
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Langue
en
Communication dans un congrès
Ce document a été publié dans
2007, Unknown. 2007p. 878-+
Résumé en anglais
no abstract
no abstract< Réduire
Origine
Importé de halUnités de recherche