High yield grafting of carbon nanotube on ultra-sharp silicon nanotips: Mechanical characterization and AFM imaging
LEGRAND, Bernard
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
BUCHAILLOT, L.
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
< Leer menos
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Idioma
en
Communication dans un congrès
Este ítem está publicado en
2007, Unknown. 2007p. 878-+
Resumen en inglés
no abstract
no abstract< Leer menos
Orígen
Importado de HalCentros de investigación