3D-additive manufacturing non-destructive characterization with terahertz waves (Conference Presentation)
OBATON, Anne-Françoise
Laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM [LCM-CNAM]
Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] [LNE]
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Langue
en
Communication dans un congrès
Ce document a été publié dans
2018-01-27, San Francisco. p. 26
SPIE
Origine
Importé de halUnités de recherche