3D-additive manufacturing non-destructive characterization with terahertz waves (Conference Presentation)
OBATON, Anne-Françoise
Laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM [LCM-CNAM]
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Idioma
en
Communication dans un congrès
Este ítem está publicado en
2018-01-27, San Francisco. p. 26
SPIE
Orígen
Importado de HalCentros de investigación