BERCU, Bernard; RICHOU, Adrien

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BERCU, Bernard
Institut de Mathématiques de Bordeaux [IMB]

RICHOU, Adrien
Institut de Mathématiques de Bordeaux [IMB]

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Advances in Applied Probability. 2015-09-01, vol. 47, n° 3, p. 1--22

Applied Probability Trust

Résumé en anglais

We investigate the large deviation properties of the maximum likelihood estimators for the Ornstein-Uhlenbeck process with shift. We estimate simultaneously the drift and shift parameters. On the one hand, we establish a large deviation principle for the maximum likelihood estimates of the drift and shift parameters. Surprisingly, we find that the drift estimator shares the same large deviation principle as the one previously established for the Ornstein-Uhlenbeck process without shift. Sharp large deviation principles are also provided. On the other hand, we show that the maximum likelihood estimator of the shift parameter satisfies a large deviation principle with a very unusual implicit rate function.< Réduire

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Large deviations for the Ornstein-Uhlenbeck process with shift

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