El sistema se apagará debido a tareas habituales de mantenimiento. Por favor, guarde su trabajo y desconéctese.
On parametric inference for step-stress models
Idioma
en
Article de revue
Este ítem está publicado en
IEEE Transactions on Reliability. 2002, vol. 51, n° 1, p. 27-31
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Orígen
Importado de HalCentros de investigación