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Thickness determination in anisotropic media with plasmon waveguide resonance imaging

HARTÉ, Etienne
Laboratoire Ondes et Matière d'Aquitaine [LOMA]
ALVES, Isabel
Chimie et Biologie des Membranes et des Nanoobjets [CBMN]
IHRKE, Ivo
Laboratoire Photonique, Numérique et Nanosciences [LP2N]
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Idioma
en
Article de revue
Este ítem está publicado en
Optics Express. 2019-02-04, vol. 27, n° 3, p. 3264-3275
Optical Society of America - OSA Publishing
Resumen en inglés
This paper describes a simple procedure to determine the local thickness of a thin anisotropic layer. It also discriminates between isotropic and anisotropic regions, provided a smoothness hypothesis on the refractive index ...Leer más >
URI
https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/181760
DOI
Orígen
Importado de Hal
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