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hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorEZZAHRI, Y.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorPATINO LOPEZ, L.D.
hal.structure.identifierEcole Centrale Paris
dc.contributor.authorCHAPUIS, Pierre-Olivier
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorDILHAIRE, S.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorGRAUBY, Stéphane
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorCLAEYS, W.
hal.structure.identifierEcole Centrale Paris
dc.contributor.authorVOLZ, Sebastian
dc.date.issued2005-07-06
dc.identifier.issn0749-6036
dc.description.abstractEnWe present a simple method for the characterization of the dynamical behavior of the SThM Wollaston wire thermal resistive probe using Si/SiGe microcoolers. Measurements show a time response of about 186 mu s. This value confirms the value found in the literature. Measurements also allow us to determine the total thermal tip-sample contact resistance Z(Th)(C)
dc.language.isoen
dc.publisherElsevier
dc.subject.enSThM technique
dc.subject.enmicrocooler
dc.subject.enWollaston wire
dc.subject.enSThM thermal probe time response
dc.subject.enTip-sample contact resistance
dc.subject.enSThM technique
dc.title.enDynamical behavior of the scanning thermal microscope (SThM) thermal resistive probe studied using Si/SiGe microcoolers
dc.typeArticle de revue
dc.identifier.doi10.1016/j.spmi.2005.04.005
dc.subject.halPhysique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Autre [cond-mat.other]
dc.subject.halPhysique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]
bordeaux.journalSuperlattices and Microstructures
bordeaux.page69-75
bordeaux.volume38
bordeaux.issue1
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-00116282
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-00116282v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Superlattices%20and%20Microstructures&rft.date=2005-07-06&rft.volume=38&rft.issue=1&rft.spage=69-75&rft.epage=69-75&rft.eissn=0749-6036&rft.issn=0749-6036&rft.au=EZZAHRI,%20Y.&PATINO%20LOPEZ,%20L.D.&CHAPUIS,%20Pierre-Olivier&DILHAIRE,%20S.&GRAUBY,%20St%C3%A9phane&rft.genre=article


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