Electrical characterization of Ca1-xErxF2+x luminescent thin films
BARRIÉRE, A. S.
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Laboratoire d'études de l'intégration des composants et systèmes électroniques [IXL]
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Langue
en
Article de revue
Ce document a été publié dans
Journal of Applied Physics. 1998, vol. 83, n° 12, p. 7813-7821
American Institute of Physics
Résumé en anglais
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Origine
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