Electrical characterization of Ca1-xErxF2+x luminescent thin films
BARRIÉRE, A. S.
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Laboratoire d'études de l'intégration des composants et systèmes électroniques [IXL]
See more >
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Laboratoire d'études de l'intégration des composants et systèmes électroniques [IXL]
BARRIÉRE, A. S.
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Laboratoire d'études de l'intégration des composants et systèmes électroniques [IXL]
< Reduce
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Laboratoire d'études de l'intégration des composants et systèmes électroniques [IXL]
Language
en
Article de revue
This item was published in
Journal of Applied Physics. 1998, vol. 83, n° 12, p. 7813-7821
American Institute of Physics
English Abstract
no abstract
no abstractRead less <
Origin
Hal imported