El sistema se apagará debido a tareas habituales de mantenimiento. Por favor, guarde su trabajo y desconéctese.
Damping and instability in non-contact atomic force microscopy: the contribution of the instrument
Idioma
en
Article de revue
Este ítem está publicado en
Nanotechnology. 2005, vol. 16, n° 8, p. 1346-1353
Institute of Physics
Resumen en inglés
no abstract