El sistema se apagará debido a tareas habituales de mantenimiento. Por favor, guarde su trabajo y desconéctese.
Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
Idioma
fr
Article de revue
Este ítem está publicado en
Microelectronics Reliability. 2003, vol. 1, p. 1
Elsevier
Orígen
Importado de HalCentros de investigación