El sistema se apagará debido a tareas habituales de mantenimiento. Por favor, guarde su trabajo y desconéctese.
Sensing temperature in CMOS circuits for thermal testing
Idioma
en
Chapitre d'ouvrage
Este ítem está publicado en
22nd Ieee Vlsi Test Symposium, Proceedings, 22nd Ieee Vlsi Test Symposium, Proceedings. 2004p. 179-184
Orígen
Importado de HalCentros de investigación