KUZEL, P.; SIMON, E.; OSTAPCHUK, T.; HLINKA, J.; KAMBA, S.; NGUEMA AGNANDJI, Edwin; MOUNAIX, Patrick; CARRU, Jean-Claude; VÉLU, Gabriel

doi:10.1080/01411594.2010.509608

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KUZEL, P.
Institute of Physics

SIMON, E.
Institute of Physics

OSTAPCHUK, T.
Institute of Physics

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Communication dans un congrès

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2010-05-24, Telč. 2011-11-20, vol. 83, n° 10-11, p. 966-973

Résumé en anglais

Here, we report on the experimental study of terahertz (THz) and far-infrared dielectric response of polycrystalline BaxSr1-xTiO3 (x = 0.5, 0.7, and 0.8) films of 0.3-1 mu m thicknesses deposited on a sapphire. THz and far-infrared transmission measurements were performed in 100-420 K temperature range covering the vicinity of TC of their bulk prototypes. We identified all polar optical phonons observed in bulk samples below 400 cm-1 of the same composition including soft and central modes and found some additional features, which we assigned to the depolarizing field effect coming from the structural inhomogeneity and unreleased strain.< Réduire

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Terahertz and far-infrared response of BaxSr1-xTiO3 films

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