El sistema se apagará debido a tareas habituales de mantenimiento. Por favor, guarde su trabajo y desconéctese.
Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation
Idioma
en
Article de revue
Este ítem está publicado en
Microelectronics Reliability. 2008 n° 48, p. 1354-1360
Elsevier