Etude et conception d’une structure BIST pour convertisseur analogique-numérique

Abstract

Le test de circuits analogiques et mixtes est de plus en plus difficile du fait de l’intégration d’un nombre croissant de composants complexes au sein d’un même système. Les techniques de BIST permettent la réalisation d’un test efficace en intégrant au système les ressources nécessaires au test. Dans cette thèse, nous présentons une structure BIST pour les Convertisseurs Analogiques-Numériques (CAN) tout numérique. Le générateur de stimuli est un oscillateur Sigma-Delta numérique délivrant, après un simple filtrage analogique, une sinusoïde. L’analyse de la réponse se fait au moyen d’un banc de filtres numériques séparant les différentes composantes harmoniques du signal issu du CAN. A partir de ces composantes harmoniques, différents paramètres spectraux sont calculés. Afin de valider cette structure, différents prototypes ont été conçu sur FPGA. Les résultats expérimentaux confirment la capacité de notre structure à tester efficacement un CAN 12 bits ayant un SNR de 70 dB.