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dc.contributor.advisorFremont, Hélène
dc.contributor.advisorGuédon-Gracia, Alexandrine
dc.contributor.authorBERTHOU, Matthieu
dc.contributor.otherBonnaud, Olivier
dc.contributor.otherDuchamp, Geneviève
dc.contributor.otherRetaillaud, Pascal
dc.contributor.otherJephos-Davennel, Catherine
dc.date2012-09-21
dc.date.accessioned2020-12-14T21:14:04Z
dc.date.available2020-12-14T21:14:04Z
dc.identifier.urihttp://ori-oai.u-bordeaux1.fr/pdf/2012/BERTHOU_MATTHIEU_2012.pdf
dc.identifier.urihttps://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/22214
dc.identifier.nnt2012BOR1A001
dc.description.abstractLe mémoire porte sur l’étude de la fiabilité des assemblages utilisant des alliages de brasure sans-plomb en environnement sévère pour des applications électroniques. Une méthode de préparation métallographique fiable et reproductible en vue de l’analyse microstructurale est présentée. L'effet du vieillissement thermique statique sur l’évolution microstructurale de billes de brasure en SAC, la tenue à la fatigue mécanique des assemblages brasés et l'étude de l'endommagement thermomécanique sont développés. Le seul effet notable constaté après vieillissement thermique est l'augmentation des épaisseurs des intermétalliques de contact. A la suite de sollicitations mécaniques, les ruptures sont plus souvent observées dans les pistes que dans les brasures, et ne permettent pas d'incriminer des éléments de la microstructure brasée comme facteurs déterminant de propagation des fissures. Les sollicitations thermomécaniques conduisent à une recristallisation, et les fissures se propagent alors le long des joints de grains recristallisés.
dc.description.abstractEnThe thesis focuses on the study of the reliability of assemblies using Pb-free alloys under' harsh environment for electronic applications. A method for preparing metallographic reliable and reproducible for the microstructural analysis is presented. The effect of thermal aging on the static microstructural evolution of solder balls in SAC, the resistance to mechanical fatigue of solder joints and the study of thermomechanical damage are developed. The only significant effect observed after thermal aging is the increase in thickness of the intermetallic contact. Following mechanical, ruptures are most often seen in the copper tracks of the assembly, and do not blame the solder microstructure elements as determinants of crack propagation. The thermomechanical stresses lead to recrystallization, and then cracks propagate along the grain boundaries of recrystallized.
dc.language.isofr
dc.subjectFiabilité
dc.subjectJoints brasés
dc.subjectEnvironnement sévère
dc.subjectThermique
dc.subjectThermo-mécanique
dc.subjectVibrations
dc.subjectMicrostructure
dc.subjectFissure
dc.subjectAssemblage
dc.subjectSac
dc.subjectSans plomb
dc.subjectRohs
dc.subject.enReliability
dc.subject.enSolder joint
dc.subject.enHarsh environment
dc.subject.enThermal
dc.subject.enThermo-mechanical
dc.subject.enVibrations
dc.subject.enMicrostructure
dc.subject.enCrack
dc.subject.enAssembly
dc.subject.enSac
dc.subject.enPb-free
dc.subject.enRohs
dc.titleFiabilité des assemblages sans plomb en environnement sévère
dc.typeThèses de doctorat
bordeaux.hal.laboratoriesThèses de l'Université de Bordeaux avant 2014*
bordeaux.hal.laboratoriesLaboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde)
bordeaux.institutionUniversité de Bordeaux
bordeaux.type.institutionBordeaux 1
bordeaux.thesis.disciplineElectronique
bordeaux.ecole.doctoraleÉcole doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde)
star.origin.linkhttps://www.theses.fr/2012BOR1A001
dc.contributor.rapporteurLe Gall, René
dc.contributor.rapporteurTougui, Abdellah
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.title=Fiabilit%C3%A9%20des%20assemblages%20sans%20plomb%20en%20environnement%20s%C3%A9v%C3%A8re&rft.atitle=Fiabilit%C3%A9%20des%20assemblages%20sans%20plomb%20en%20environnement%20s%C3%A9v%C3%A8re&rft.au=BERTHOU,%20Matthieu&rft.genre=unknown


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