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Mesure en microscopie électronique et couplage Raman
dc.contributor.author | ANGUY, Yannick
IDREF: 129650307 | |
dc.contributor.author | GABORIEAU, Cécile | |
dc.date.accessioned | 2021-05-14T09:37:59Z | |
dc.date.available | 2021-05-14T09:37:59Z | |
dc.date.conference | 2019-01-28 | |
dc.identifier.uri | https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/76395 | |
dc.language.iso | fr | |
dc.title | Mesure en microscopie électronique et couplage Raman | |
dc.type | Communication dans un congrès avec actes | |
dc.subject.hal | Sciences de l'ingénieur [physics] | |
bordeaux.hal.laboratories | Institut de Mécanique et d’Ingénierie de Bordeaux (I2M) - UMR 5295 | * |
bordeaux.institution | Université de Bordeaux | |
bordeaux.institution | Bordeaux INP | |
bordeaux.institution | CNRS | |
bordeaux.institution | INRAE | |
bordeaux.institution | Arts et Métiers | |
bordeaux.country | FR | |
bordeaux.title.proceeding | 8ème Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation | |
bordeaux.conference.city | BORDEAUX | |
bordeaux.peerReviewed | oui | |
hal.identifier | hal-02392670 | |
hal.version | 1 | |
hal.origin.link | https://hal.archives-ouvertes.fr//hal-02392670v1 | |
bordeaux.COinS | ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.title=Mesure%20en%20microscopie%20%C3%A9lectronique%20et%20couplage%20Raman&rft.atitle=Mesure%20en%20microscopie%20%C3%A9lectronique%20et%20couplage%20Raman&rft.au=ANGUY,%20Yannick&GABORIEAU,%20C%C3%A9cile&rft.genre=proceeding |
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