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hal.structure.identifierDepartment of Mathematics and Informatics [Vilnius]
dc.contributor.authorBAGDONAVICIUS, Vilijandas
hal.structure.identifierInstitut de Mathématiques de Bordeaux [IMB]
dc.contributor.authorGERVILLE-RÉACHE, Léo
hal.structure.identifierInstitut de Mathématiques de Bordeaux [IMB]
dc.contributor.authorNIKULIN, Mikhail
dc.date.accessioned2024-04-04T03:14:16Z
dc.date.available2024-04-04T03:14:16Z
dc.date.issued2002
dc.identifier.issn0018-9529
dc.identifier.urihttps://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/194037
dc.language.isoen
dc.publisherInstitute of Electrical and Electronics Engineers
dc.title.enOn parametric inference for step-stress models
dc.typeArticle de revue
dc.subject.halMathématiques [math]/Statistiques [math.ST]
bordeaux.journalIEEE Transactions on Reliability
bordeaux.page27-31
bordeaux.volume51
bordeaux.hal.laboratoriesInstitut de Mathématiques de Bordeaux (IMB) - UMR 5251*
bordeaux.issue1
bordeaux.institutionUniversité de Bordeaux
bordeaux.institutionBordeaux INP
bordeaux.institutionCNRS
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01355237
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01355237v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=IEEE%20Transactions%20on%20Reliability&rft.date=2002&rft.volume=51&rft.issue=1&rft.spage=27-31&rft.epage=27-31&rft.eissn=0018-9529&rft.issn=0018-9529&rft.au=BAGDONAVICIUS,%20Vilijandas&GERVILLE-R%C3%89ACHE,%20L%C3%A9o&NIKULIN,%20Mikhail&rft.genre=article


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