Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
dc.contributor.author | POUGET, Vincent | |
hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
dc.contributor.author | LEWIS, Dean | |
hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
dc.contributor.author | LAPUYADE, Hervé | |
hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
dc.contributor.author | BRIAND, Renaud | |
hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
dc.contributor.author | FOUILLAT, Pascal | |
dc.contributor.author | SARGER, L. | |
dc.contributor.author | CALVET, M. C. | |
dc.date.issued | 1999 | |
dc.identifier.issn | 0026-2714 | |
dc.language.iso | en | |
dc.publisher | Elsevier | |
dc.title.en | Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis | |
dc.type | Article de revue | |
dc.subject.hal | Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique | |
bordeaux.journal | Microelectronics Reliability | |
bordeaux.page | 1 | |
bordeaux.volume | 39 | |
bordeaux.peerReviewed | oui | |
hal.identifier | hal-00185404 | |
hal.version | 1 | |
hal.popular | non | |
hal.audience | Non spécifiée | |
hal.origin.link | https://hal.archives-ouvertes.fr//hal-00185404v1 | |
bordeaux.COinS | ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Microelectronics%20Reliability&rft.date=1999&rft.volume=39&rft.spage=1&rft.epage=1&rft.eissn=0026-2714&rft.issn=0026-2714&rft.au=POUGET,%20Vincent&LEWIS,%20Dean&LAPUYADE,%20Herv%C3%A9&BRIAND,%20Renaud&FOUILLAT,%20Pascal&rft.genre=article |
Files in this item
Files | Size | Format | View |
---|---|---|---|
There are no files associated with this item. |