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Capteurs intégrés pour la fiabilisation des technologies d'encapsulation en microélectronique
dc.contributor.advisor | Fremont, Hélène | |
dc.contributor.advisor | Drouin, Dominique | |
dc.contributor.author | QUELENNEC, Aurore | |
dc.contributor.other | Fremont, Hélène | |
dc.contributor.other | Landesman, Jean-Pierre | |
dc.contributor.other | Darnon, Maxime | |
dc.contributor.other | Bonnassieux, Yvan | |
dc.contributor.other | Duchesne, Eric | |
dc.date | 2018-07-13 | |
dc.identifier.uri | http://www.theses.fr/2018BORD0105/abes | |
dc.identifier.uri | ||
dc.identifier.uri | https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01895864 | |
dc.identifier.nnt | 2018BORD0105 | |
dc.description.abstract | L’entreprise IBM a lancé en 2014 un projet de recherche pour introduire de l’intelligence, c’est-à-dire des capteurs, dans des modules micro-électroniques. Le projet vise l’amélioration, à partir des données des capteurs, des procédés d’assemblage de puce qui serviront dans des serveurs pour du calcul haute performance ou les télécommunications.Mon projet consiste à concevoir, caractériser, puis intégrer 109 micro-capteurs, de dimensions 1 x 100 x 100 µm3, de température, humidité et contrainte sur une puce électronique de 2 x 2 cm2. L’objectif est d’obtenir en temps réel la répartition de l’humidité, la température et la contrainte dans l’assemblage, en environnement sévère.Les capteurs à base de nanotubes de carbone réalisés sont très sensibles à l’humidité et la température, avec par exemple une variation de 50% de la grandeur de sortie du capteur pour une variation de -40 à 140 °C. J’ai proposé une méthode novatrice à partir des propriétés de l’impédance du capteur permettant la séparation de la réponse à la température de celle à l’humidité. | |
dc.description.abstractEn | IBM is combining forces with the Université de Sherbrooke to introduce intelligency, which are sensors, in microelectronics module. The project is to make the assembly process of a chip more robust thanks to the sensor data. These microelectronics module are used in high-performance computing servers or telecommunications. The objectives are to design, characterize and embed 109 micro-sensors, having dimensions below 1 x 100 x 100 µm3. These micro-sensors will be on chip and measure temperature, moisture and strain. Thus these micro-sensors will give the spatial distribution of temperature, moisture and strain into the microelectronics module in severe environments. The carbon nanotube-based sensor realized are very sensitive to moisture and temperature, as example the output quantity value of the sensors is reduced by 50 per cent with a temperature excursions from -40 to 140 ℃. I developed a novel method to separate the temperature response from the moisture one, using the impedance properties of the sensor. | |
dc.language.iso | fr | |
dc.subject | Matrice de capteurs | |
dc.subject | Découplage | |
dc.subject | Température | |
dc.subject | Humidité | |
dc.subject | Flip-chip | |
dc.subject | Fiabilité | |
dc.subject | Contrainte | |
dc.subject.en | Array of sensors | |
dc.subject.en | Separation | |
dc.subject.en | Temperature | |
dc.subject.en | Moisture | |
dc.subject.en | Flip-chip | |
dc.subject.en | Reliability | |
dc.subject.en | Strain | |
dc.title | Capteurs intégrés pour la fiabilisation des technologies d'encapsulation en microélectronique | |
dc.title.en | Embedded sensors for microelectronics packaged module reliability | |
dc.type | Thèses de doctorat | |
dc.contributor.jurypresident | Landesman, Jean-Pierre | |
bordeaux.hal.laboratories | Laboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde) | |
bordeaux.type.institution | Bordeaux | |
bordeaux.type.institution | Université de Sherbrooke (Québec, Canada) | |
bordeaux.thesis.discipline | Electronique | |
bordeaux.ecole.doctorale | École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde) | |
star.origin.link | https://www.theses.fr/2018BORD0105 | |
dc.contributor.rapporteur | Darnon, Maxime | |
dc.contributor.rapporteur | Bonnassieux, Yvan | |
bordeaux.COinS | ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.title=Capteurs%20int%C3%A9gr%C3%A9s%20pour%20la%20fiabilisation%20des%20technologies%20d'encapsulation%20en%20micro%C3%A9lectronique&rft.atitle=Capteurs%20int%C3%A9gr%C3%A9s%20pour%20la%20fiabilisation%20des%20technologies%20d'encapsulation%20en%20micro%C3%A9lectronique&rft.au=QUELENNEC,%20Aurore&rft.genre=unknown |
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