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Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis

hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorPOUGET, Vincent
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorLEWIS, Dean
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorLAPUYADE, Hervé
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorBRIAND, Renaud
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorFOUILLAT, Pascal
dc.contributor.authorSARGER, L.
dc.contributor.authorCALVET, M. C.
dc.date.issued1999
dc.identifier.issn0026-2714
dc.language.isoen
dc.publisherElsevier
dc.title.enValidation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
dc.typeArticle de revue
dc.subject.halSciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
bordeaux.journalMicroelectronics Reliability
bordeaux.page1
bordeaux.volume39
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-00185404
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceNon spécifiée
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-00185404v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Microelectronics%20Reliability&rft.date=1999&rft.volume=39&rft.spage=1&rft.epage=1&rft.eissn=0026-2714&rft.issn=0026-2714&rft.au=POUGET,%20Vincent&LEWIS,%20Dean&LAPUYADE,%20Herv%C3%A9&BRIAND,%20Renaud&FOUILLAT,%20Pascal&rft.genre=article


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