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hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorCLAEYS, W.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorQUINTARD, V.
hal.structure.identifierMicro et nanothermique [MN]
dc.contributor.authorDILHAIRE, S.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorLEWIS, D.
hal.structure.identifierLaboratoire d'études de l'intégration des composants et systèmes électroniques [IXL]
dc.contributor.authorDANTO, Y.
dc.date.issued1993
dc.date.conference1993
dc.description.abstractEnno abstract
dc.language.isoen
dc.publisherJohn Wiley & Sons Ltd
dc.title.enEARLY DETECTION OF AGING IN SOLDER JOINTS THROUGH LASER PROBE THERMAL-ANALYSIS OF THE PELTIER EFFECT
dc.typeCommunication dans un congrès
dc.subject.halPhysique [physics]
bordeaux.page289-295
bordeaux.conference.titleEuropean Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis 1993 (ESREF 93)
bordeaux.countryZZ
bordeaux.conference.cityUnknown
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01549746
hal.version1
hal.invitednon
hal.proceedingsoui
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01549746v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.date=1993&rft.spage=289-295&rft.epage=289-295&rft.au=CLAEYS,%20W.&QUINTARD,%20V.&DILHAIRE,%20S.&LEWIS,%20D.&DANTO,%20Y.&rft.genre=unknown


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