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hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorBOUHACINA, T.
dc.contributor.authorMICHEL, D.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorAIME, J. P.
dc.contributor.authorGAUTHIER, S.
dc.date.issued1997
dc.identifier.issn0021-8979
dc.description.abstractEnno abstract
dc.language.isoen
dc.publisherAmerican Institute of Physics
dc.title.enOscillation of the cantilever in atomic force microscopy: Probing the sample response at the microsecond scale
dc.typeArticle de revue
dc.subject.halPhysique [physics]
bordeaux.journalJournal of Applied Physics
bordeaux.page3652-3660
bordeaux.volume82
bordeaux.issue8
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01550169
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01550169v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Journal%20of%20Applied%20Physics&rft.date=1997&rft.volume=82&rft.issue=8&rft.spage=3652-3660&rft.epage=3652-3660&rft.eissn=0021-8979&rft.issn=0021-8979&rft.au=BOUHACINA,%20T.&MICHEL,%20D.&AIME,%20J.%20P.&GAUTHIER,%20S.&rft.genre=article


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