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dc.contributor.authorCHATELLUS, H. G.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorMONTANT, S.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorFREYSZ, E.
dc.date.issued2000
dc.identifier.issn0146-9592
dc.description.abstractEnno abstract
dc.language.isoen
dc.publisherOptical Society of America - OSA Publishing
dc.title.enNondestructive method for characterization of the second-order nonlinear profile and charge distribution in thermally poled fused silica
dc.typeArticle de revue
dc.subject.halPhysique [physics]
bordeaux.journalOptics Letters
bordeaux.page1723-1725
bordeaux.volume25
bordeaux.issue23
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01550512
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01550512v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Optics%20Letters&rft.date=2000&rft.volume=25&rft.issue=23&rft.spage=1723-1725&rft.epage=1723-1725&rft.eissn=0146-9592&rft.issn=0146-9592&rft.au=CHATELLUS,%20H.%20G.&MONTANT,%20S.&FREYSZ,%20E.&rft.genre=article


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