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hal.structure.identifierPropriétés Optiques des Matériaux et Applications [POMA]
dc.contributor.authorBARILLE, R.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorCANIONI, L.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorSARGER, L.
dc.contributor.authorRIVOIRE, G.
dc.date.issued2002
dc.identifier.issn1539-3755
dc.description.abstractEnno abstract
dc.language.isoen
dc.publisherAmerican Physical Society
dc.title.enNonlinearity measurements of thin films by third-harmonic-generation microscopy
dc.typeArticle de revue
dc.identifier.doi10.1103/PhysRevE.66.067602
dc.subject.halPhysique [physics]
bordeaux.journalPhysical Review E : Statistical, Nonlinear, and Soft Matter Physics
bordeaux.volume66
bordeaux.issue6
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01550820
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01550820v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Physical%20Review%20E%20:%20Statistical,%20Nonlinear,%20and%20Soft%20Matter%20Physics&rft.date=2002&rft.volume=66&rft.issue=6&rft.eissn=1539-3755&rft.issn=1539-3755&rft.au=BARILLE,%20R.&CANIONI,%20L.&SARGER,%20L.&RIVOIRE,%20G.&rft.genre=article


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