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hal.structure.identifierChimie Nucléaire Analytique et Bio-environnementale [CNAB]
dc.contributor.authorDEVÈS, Guillaume
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorCOHEN-BOUHACINA, T.
hal.structure.identifierLaboratoire SUBATECH Nantes [SUBATECH]
dc.contributor.authorORTEGA, R.
dc.date.issued2003
dc.date.conference2003
dc.description.abstractEnno abstract
dc.language.isoen
dc.publisherPergamon-Elsevier Science Ltd
dc.title.enScanning transmission ion microscopy mass measurements for quantitative trace element analysis within biological samples and validation using atomic force microscopy thickness measurements
dc.typeCommunication dans un congrès
dc.identifier.doi10.1016/j.sab.2004.04.015
dc.subject.halPhysique [physics]
bordeaux.page1733-1738
bordeaux.countryZZ
bordeaux.conference.cityUnknown
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01550929
hal.version1
hal.invitednon
hal.proceedingsoui
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01550929v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.date=2003&rft.spage=1733-1738&rft.epage=1733-1738&rft.au=DEV%C3%88S,%20Guillaume&COHEN-BOUHACINA,%20T.&ORTEGA,%20R.&rft.genre=unknown


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