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Calibration-free heat source localisation in ICs entirely covered by metal layers

hal.structure.identifierElectronic Engineering Department
dc.contributor.authorALTET, J.
dc.contributor.authorSALHI, M. A.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorDILHAIRE, S.
hal.structure.identifierInstitut Laue-Langevin [ILL]
dc.contributor.authorIVANOV, A.
dc.date.issued2004
dc.identifier.issn0013-5194
dc.description.abstractEnno abstract
dc.language.isoen
dc.publisherIET
dc.title.enCalibration-free heat source localisation in ICs entirely covered by metal layers
dc.typeArticle de revue
dc.identifier.doi10.1049/el:20040172
dc.subject.halPhysique [physics]
bordeaux.journalElectronics Letters
bordeaux.page241-242
bordeaux.volume40
bordeaux.issue4
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01551913
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01551913v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Electronics%20Letters&rft.date=2004&rft.volume=40&rft.issue=4&rft.spage=241-242&rft.epage=241-242&rft.eissn=0013-5194&rft.issn=0013-5194&rft.au=ALTET,%20J.&SALHI,%20M.%20A.&DILHAIRE,%20S.&IVANOV,%20A.&rft.genre=article


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