Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
| hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
| dc.contributor.author | POUGET, Vincent | |
| hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
| dc.contributor.author | LEWIS, Dean
IDREF: 071653953 | |
| hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
| dc.contributor.author | LAPUYADE, Herve
IDREF: 120393336 | |
| hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
| dc.contributor.author | BRIAND, Renaud
IDREF: 60598379 | |
| hal.structure.identifier | Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS] | |
| dc.contributor.author | FOUILLAT, Pascal | |
| dc.contributor.author | SARGER, L. | |
| dc.contributor.author | CALVET, M. C. | |
| dc.date.accessioned | 2022-10-14T10:02:55Z | |
| dc.date.available | 2022-10-14T10:02:55Z | |
| dc.date.issued | 1999 | |
| dc.identifier.issn | 0026-2714 | |
| dc.identifier.uri | https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/165938 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.publisher | Elsevier | |
| dc.title.en | Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis | |
| dc.type | Article de revue | |
| dc.subject.hal | Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique | |
| bordeaux.journal | Microelectronics Reliability | |
| bordeaux.page | 1 | |
| bordeaux.volume | 39 | |
| bordeaux.hal.laboratories | Laboratoire Ondes et Matière d'Aquitaine (LOMA) - UMR 5798 | * |
| bordeaux.institution | Université de Bordeaux | |
| bordeaux.institution | CNRS | |
| bordeaux.institution | Bordeaux INP | |
| bordeaux.institution | Bordeaux Sciences Agro | |
| bordeaux.peerReviewed | oui | |
| hal.identifier | hal-00185404 | |
| hal.version | 1 | |
| hal.origin.link | https://hal.archives-ouvertes.fr//hal-00185404v1 | |
| bordeaux.COinS | ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Microelectronics%20Reliability&rft.date=1999&rft.volume=39&rft.spage=1&rft.epage=1&rft.eissn=0026-2714&rft.issn=0026-2714&rft.au=POUGET,%20Vincent&LEWIS,%20Dean&LAPUYADE,%20Herve&BRIAND,%20Renaud&FOUILLAT,%20Pascal&rft.genre=article |
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