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dc.contributor.authorBENDADA, A.
dc.contributor.authorSFARRA, S.
dc.contributor.authorIBARRA−CASTANEDO, C.
dc.contributor.authorAKHLOUFI, M.
dc.contributor.authorCAUMES, J.−P.
hal.structure.identifierInstitut de Mécanique et d'Ingénierie de Bordeaux [I2M]
dc.contributor.authorPRADERE, Christophe
IDREF: 095038132
dc.contributor.authorBATSALE, Jean-Christophe
dc.contributor.authorMALDAGUE, X.
dc.date.accessioned2021-05-14T09:38:59Z
dc.date.available2021-05-14T09:38:59Z
dc.date.issued2015-01-01
dc.identifier.issn1230-3402
dc.identifier.urihttps://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/76458
dc.language.isoen
dc.publisherSpringer Verlag
dc.title.enSubsurface imaging for panel paintings inspection: A comparative study of the ultraviolet, the visible, the infrared and the terahertz spectra
dc.typeArticle de revue
dc.identifier.doi10.1515/oere-2015-0013
dc.subject.halSciences de l'ingénieur [physics]
bordeaux.journalOpto-Electronics Review
bordeaux.volume23
bordeaux.hal.laboratoriesInstitut de Mécanique et d’Ingénierie de Bordeaux (I2M) - UMR 5295*
bordeaux.issue1
bordeaux.institutionUniversité de Bordeaux
bordeaux.institutionBordeaux INP
bordeaux.institutionCNRS
bordeaux.institutionINRAE
bordeaux.institutionArts et Métiers
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-02369577
hal.version1
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-02369577v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Opto-Electronics%20Review&rft.date=2015-01-01&rft.volume=23&rft.issue=1&rft.eissn=1230-3402&rft.issn=1230-3402&rft.au=BENDADA,%20A.&SFARRA,%20S.&IBARRA%E2%88%92CASTANEDO,%20C.&AKHLOUFI,%20M.&CAUMES,%20J.%E2%88%92P.&rft.genre=article


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