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Etude de la fiabilité de composants GaN en conversion d'énergie
(Bordeaux, 2018-09-27)Thèses de doctorat -
Caractérisation électrothermique, simulations TCAD et modélisation compacte de transistors HBT en SiGe au niveau composant et circuit
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(IEEE Int. Technol. Manag. Conf., ICE, IEEE Int. Technol. Manag. Conf., ICE, pt, Lisbonne, 2016)Communication dans un congrès avec actes