Conception de systèmes radiofréquences sous contraintes de fiabilité étendue
dc.contributor.author | CIMINO, Mikael | |
dc.date | 2007-09-28 | |
dc.date.accessioned | 2021-01-13T14:03:34Z | |
dc.date.available | 2021-01-13T14:03:34Z | |
dc.identifier.uri | https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/25362 | |
dc.description.abstract | De façon à répondre à la demande émergente des industriels pour le développement de méthodes pouvant augmenter la fiabilité des systèmes radiofréquences (RF), je propose, dans le cadre de ma thèse, une méthodologie susceptible d’augmenter la fiabilité de tels circuits. Cette dernière se décompose en deux axes : - Méthodologie de test des circuits RF : dans le but de détecter les défaillances d’un circuit RF, une surveillance des paramètres caractéristiques du circuit sous test est réalisée en fonctionnement grâce à un circuit d’auto-test qui ne perturbe pas les performances de ce dernier. - Méthodologie d’amélioration de la fiabilité : une redondance passive des éléments critiques, qui composent le circuit, est réalisée de manière à assurer le fonctionnement de celui-ci tout en minimisant sa surface et donc le coût du système global. Cette méthode est ensuite appliquée à deux amplificateurs à faible bruit, connu pour être un élément RF critique, ce qui démontre sa faisabilité et son efficacité. | |
dc.description.abstractEn | To respond to the growing demand for fault tolerance a methodology to increase RF circuits reliability is developed in the thesis, which is composed of two axes. - Design For Test (DFT) methodology: to detect faults in RF ICs on line monitoring of its critical parameters, such as is DC current consumption, is realized thanks to Built-In Self Test (BIST) circuits, such as Built-In Current Sensor (BICS). The proposed BIST is transparent for the RF Circuit Under Test (CUT). - Design For Reliability methodology: the principle of cold stand by redundancy is applied to the critical elements of the RF circuit which are transistors. Thus, while a fault occurring, the functionality of the device is ensured and the silicon area is saved. Also, design cares are applied to the layout to prevent the common failure mechanisms. This methodology has been applied to two Low Noise Amplifiers (LNA) demonstrators, which is a critical RF block, to show its availability and its efficiency. | |
dc.format | application/pdf | |
dc.language | fr | |
dc.rights | free | |
dc.subject | Electronique | |
dc.subject | Conception en vue de la fiabilité | |
dc.subject | conception en vue du test | |
dc.subject | autotest intégré | |
dc.subject | circuits radiofréquences | |
dc.subject | technologie CMOS | |
dc.subject | amplificateurs à faible bruit | |
dc.title | Conception de systèmes radiofréquences sous contraintes de fiabilité étendue | |
dc.type | Thèses de doctorat | |
bordeaux.hal.laboratories | Thèses Bordeaux 1 Ori-Oai | * |
bordeaux.institution | Université de Bordeaux | |
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