Fiabilité des amplificateurs optiques à semiconducteur 1,55 µm pour des applications de télécommunication : étude expérimentale et modélisation physique : étude expérimentale et modélisation physique
Thèses de doctorat
Date
2005-01-13Abstract
Ces travaux de thèse décrivent le développement et la mise en oeuvre d'un protocole expérimental pour estimer la fiabilité d'une technologie "bulk" d'amplificateur optique à semiconducteur (AOS) 1,55µm de couche active ...Read more >
Ces travaux de thèse décrivent le développement et la mise en oeuvre d'un protocole expérimental pour estimer la fiabilité d'une technologie "bulk" d'amplificateur optique à semiconducteur (AOS) 1,55µm de couche active InGaAsP épitaxiée sur substrat InP. Il est basé sur l'analyse des paramètres électriques et optiques (puissance optique, pseudo-courant de seuil, gain, figure de bruit, puissance de saturation, …) suivis lors de différents tests de vieillissement sous différents facteurs d'accélération (courant-température). Ces études expérimentales, confortées par des simulations physiques 2D par éléments finis en introduisant un grand nombre de paramètres physiques extraits de caractérisations expérimentales, ont permis de mettre en évidence trois signatures de défaillance distinctes. Une première prédiction de distribution des durées de vie d'un AOS est également proposée à partir d'une approche statistique basée sur la méthode Monte-Carlo appliquée dans le cadre d'une faible population de composants et d'une faible dérive des paramètres.Read less <
English Abstract
These works describe the implementation of an experimental protocol implemented to estimate the reliability of a technology "bulk" of 1.55µm Semiconductor Optical Amplifier (SOA) with an InGaAsP active layer grown on InP ...Read more >
These works describe the implementation of an experimental protocol implemented to estimate the reliability of a technology "bulk" of 1.55µm Semiconductor Optical Amplifier (SOA) with an InGaAsP active layer grown on InP substrate. The tests are based on the analysis of electric and optical parameters (optical power, threshold current, gain, noise figure, saturation power...) monitored during ageing tests with various acceleration factors (current-temperature). These experimental studies, correlated to 2D finite elements physical modelling introducing a great number of physical parameters extracted from experimental characterizations, highlighted three distinct failure signatures. First predictions of SOA lifetime's distribution is also proposed considering a statistical approach based on the Monte-Carlo method applied for a weak population of components and a weak drift of the parameters.Read less <
Keywords
Electronique
Optoélectronique
amplificateurs optiques à semiconducteur
fiabilité
simulation physique
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