Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques
| dc.contributor.advisor | Lewis, Dean | |
| dc.contributor.advisor | Pouget, Vincent | |
| dc.contributor.author | SHAO, Kai | |
| dc.contributor.other | Darracq, Frédéric | |
| dc.contributor.other | Wrobel, Frédéric | |
| dc.date | 2012-10-02 | |
| dc.date.accessioned | 2020-12-14T21:16:31Z | |
| dc.date.available | 2020-12-14T21:16:31Z | |
| dc.identifier.uri | http://ori-oai.u-bordeaux1.fr/pdf/2012/SHAO_KAI_2012.pdf | |
| dc.identifier.uri | https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/22619 | |
| dc.identifier.nnt | 2012BOR14596 | |
| dc.description.abstract | -Utilisation de l’interaction non-linéaire entre des impulsions laser (proche infrarouge) ultracourtes et le silicium, en mode d’absorption multiphotonique ou de génération d’harmoniques optiques, pour la stimulation et le test photo-électrique. - Développement des méthodes d’imagerie statique et dynamique pour l’analyse de défaillance en appliquant les techniques d’optique femtoseconde sur circuits intégrés. - Modélisation de l’interaction laser-silicium avec la méthode FDTD (Rsoft). | |
| dc.description.abstractEn | Using the nonlinear interaction between ultra-short laser pulses (λ ~ 0.8μm to1.3μm) and silicon, with multi-photon absorption or optical harmonic generation, to achieve photoelectric stimulation and testing. Development of imaging methods for static and dynamic failure analysis techniques using femtosecond laser (TOBIC, 2pLADA) on integrated circuits. | |
| dc.language.iso | fr | |
| dc.subject | Nonlinéaire | |
| dc.subject | Optique | |
| dc.subject | Analyse de défaillance | |
| dc.subject | Microélectronique | |
| dc.subject.en | Nonlinear | |
| dc.subject.en | Optics | |
| dc.subject.en | Failure analysis | |
| dc.subject.en | Microelectronique | |
| dc.title | Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques | |
| dc.type | Thèses de doctorat | |
| dc.contributor.jurypresident | Malbert, Nathalie | |
| bordeaux.hal.laboratories | Thèses de l'Université de Bordeaux avant 2014 | * |
| bordeaux.hal.laboratories | Laboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde) | |
| bordeaux.institution | Université de Bordeaux | |
| bordeaux.type.institution | Bordeaux 1 | |
| bordeaux.thesis.discipline | Electronique | |
| bordeaux.ecole.doctorale | École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde) | |
| star.origin.link | https://www.theses.fr/2012BOR14596 | |
| dc.contributor.rapporteur | Delaporte, Philippe | |
| dc.contributor.rapporteur | Perdu, Philippe | |
| bordeaux.COinS | ctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.title=Nouvelles%20m%C3%A9thodes%20d'imagerie%20haute%20r%C3%A9solution%20pour%20l'analyse%20des%20composants%20nano%C3%A9lectroniques&rft.atitle=Nouvelles%20m%C3%A9thodes%20d'imagerie%20haute%20r%C3%A9solution%20pour%20l'analyse%20des%20composants%20nano%C3%A9lectroniques&rft.au=SHAO,%20Kai&rft.genre=unknown |
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