Nouvelles méthodes d'imagerie haute résolution pour l'analyse des composants nanoélectroniques
Language
fr
Thèses de doctorat
Date
2012-10-02Speciality
Electronique
Doctoral school
École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde)Abstract
-Utilisation de l’interaction non-linéaire entre des impulsions laser (proche infrarouge) ultracourtes et le silicium, en mode d’absorption multiphotonique ou de génération d’harmoniques optiques, pour la stimulation et ...Read more >
-Utilisation de l’interaction non-linéaire entre des impulsions laser (proche infrarouge) ultracourtes et le silicium, en mode d’absorption multiphotonique ou de génération d’harmoniques optiques, pour la stimulation et le test photo-électrique. - Développement des méthodes d’imagerie statique et dynamique pour l’analyse de défaillance en appliquant les techniques d’optique femtoseconde sur circuits intégrés. - Modélisation de l’interaction laser-silicium avec la méthode FDTD (Rsoft).Read less <
English Abstract
Using the nonlinear interaction between ultra-short laser pulses (λ ~ 0.8μm to1.3μm) and silicon, with multi-photon absorption or optical harmonic generation, to achieve photoelectric stimulation and testing. Development ...Read more >
Using the nonlinear interaction between ultra-short laser pulses (λ ~ 0.8μm to1.3μm) and silicon, with multi-photon absorption or optical harmonic generation, to achieve photoelectric stimulation and testing. Development of imaging methods for static and dynamic failure analysis techniques using femtosecond laser (TOBIC, 2pLADA) on integrated circuits.Read less <
Keywords
Nonlinéaire
Optique
Analyse de défaillance
Microélectronique
English Keywords
Nonlinear
Optics
Failure analysis
Microelectronique
Origin
STAR importedCollections