Méthodologie pour la conception de systèmes numériques complexes avec l'objectif fiabilité : modélisation et simulation de la fiabilité au niveau d'abstraction fonctionnel

Abstract

Une simple puce ou un système peut contenir plus d'un milliard de transistors, et des milliards de vias connectés au travers de kilomètres d'interconnexions. Cette thèse vise à analyser les erreurs permanentes, tels que, les phénomènes ‘Electromigration’ et ‘Hot Carrier Injection,’ au niveau fonctionnel et d'estimer la précision du simulateur de la fiabilité du processeur. Ce simulateur est utilisé pour fournir le taux cumulé de défaillance pour un processeur simulé au niveau fonctionnel, sous divers ensembles de tension et de fréquence. Les simulations sont supposés représenter des conditions idéales, sans aucune humidité ni variabilité.