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dc.contributor.advisorFremont, Hélène
dc.contributor.advisorGuédon-Gracia, Alexandrine
dc.contributor.authorBARNAT, Samed
dc.contributor.otherTalbot, Pascal
dc.contributor.otherCadalen, Eric
dc.date2011-03-30
dc.date.accessioned2020-12-14T21:13:51Z
dc.date.available2020-12-14T21:13:51Z
dc.identifier.urihttp://ori-oai.u-bordeaux1.fr/pdf/2011/BARNAT_SAMED_2011.pdf
dc.identifier.urihttps://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/22174
dc.identifier.nnt2011BOR14243
dc.description.abstractCe projet de thèse se situe dans le cadre de l'étude de la fiabilité prédictive de nouveaux concepts d'assemblages microélectroniques de type « system in package » SiP. L'objectif est de développer une méthodologie de fiabilité prédictive adaptée aux nouveaux concepts d'assemblage qui permet d'optimiser et de prédire les performances dès la phase de conception. Elle est ensuite appliquée sur des projets concrets. Cette méthodologie de fiabilité prédictive fait intervenir des études expérimentales, des simulations thermomécaniques et des analyses statistiques pour traiter les données et évaluer la fiabilité et les risques de défaillance. L'utilisation d'outils de simulation des composants électroniques est bien adaptée pour aider à l'évaluation des zones les plus fragiles, la mise en place des règles de conception et la détermination des paramètres les plus influents avec une réduction du temps de mise en marché d'un produit fiable et une optimisation des performances. Les études réalisées sur le silicium avec deux tests : bille sur anneau et test trois points montrent que le rodage et l'épaisseur ont une influence sur la variation de la contrainte et la déflexion du silicium à la rupture. Avec le test trois points, le déclenchement des fissures est lié à la qualité de sciage et de rodage. Cependant avec le test bille sur anneau, seule la qualité de surface influence le déclenchement des fissures. Le test bille sur anneau est bien adapté pour évaluer la qualité de surface du silicium. Avec les techniques chimiques de réduction de contraintes, comme la gravure humide et plasma, la résistance à la rupture a été considérablement améliorée. Ces tests de rupture sur le silicium ont permis de caractériser la rupture du silicium sous une contrainte de flexion et de compléter les résultats de simulation. Ces travaux démontrent, le besoin et l'utilité du prototypage virtuel des composants électroniques et de l'utilisation d'une méthodologie prédictive dans l'évaluation de la fiabilité en l’appliquant sur des composants réels.
dc.description.abstractEnThis thesis project is a study of the predictive reliability of new microelectronic package concepts such as "system in package" SiP. The objective is to develop a reliable predictive methodology adapted to the new assembly concepts to optimize and to predict the performance at the design phase. Then, the methodology is applied to concrete projects. This methodology of predictive reliability involves the use of experimental studies, thermomechanical simulations and statistical analysis to process the data and assess the reliability and risks of failure. The use of simulation tools for electronic components is well suited to assist in the evaluation of the most fragile areas, the setting up of design rules and the determination of the most influential parameters with a reduction in the setup time market for a reliable and optimized performance. Studies on silicon strength are conducted with two tests: ball on ring test and on three-point bend test show that the grinding and the thickness influence the variation of the stress and deflection of the silicon at break. With the three points bend test, the onset of crack is linked to defects in sawing and grinding zone. However, with the ball on ring test, only the surface quality influences the initiation of cracks. The ball on ring test is well suited for evaluating the quality of the silicon surface. Chemical techniques of stress release, such as wet etching and plasma etching, improve significantly the strength of silicon samples. These tests on silicon dies are used to characterize the breakdown of silicon under bending test and to complete the simulation results. We have demonstrated in this work, the need and the usefulness of the virtual prototyping of electronic components and the use of a predictive methodology in assessing reliability.
dc.language.isofr
dc.subjectTest bille sur anneau
dc.subjectTest trois points
dc.subjectPrototypage virtuel
dc.subjectSimulation thermomécanique
dc.subjectMicroassemblages
dc.subjectMéthodologie de fiabilité prédictive
dc.subjectRésistance mécanique du silicium
dc.subjectBoitier électronique
dc.subjectPlans d’expérience
dc.subject.enBall-on-ring test
dc.subject.enThree point bend test
dc.subject.enSilicon strength
dc.subject.enDie crack
dc.subject.enVirtual prototyping
dc.subject.enThermo mechanical simulation
dc.subject.enDesign for reliability
dc.subject.enPredictive reliability methodology
dc.subject.enSystem in package
dc.subject.enUnderfill
dc.subject.enDesign of experiments
dc.titleEtude prédictive de fiabilité de nouveaux concepts d’assemblage pour des « system-in-package » hétérogènes
dc.title.enPredictive reliability study of new assembly concepts for heterogeneous "system-in-package"
dc.typeThèses de doctorat
dc.contributor.jurypresidentDuchamp, Geneviève
bordeaux.hal.laboratoriesThèses de l'Université de Bordeaux avant 2014*
bordeaux.hal.laboratoriesLaboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde)
bordeaux.institutionUniversité de Bordeaux
bordeaux.type.institutionBordeaux 1
bordeaux.thesis.disciplineElectronique
bordeaux.ecole.doctoraleÉcole doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde)
star.origin.linkhttps://www.theses.fr/2011BOR14243
dc.contributor.rapporteurBonnaud, Olivier
dc.contributor.rapporteurCollot, Philippe
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.title=Etude%20pr%C3%A9dictive%20de%20fiabilit%C3%A9%20de%20nouveaux%20concepts%20d%E2%80%99assemblage%20pour%20des%20%C2%AB%20system-in-package%20%C2%BB%20h%C3%A9t%C3%A9rog%C3%&rft.atitle=Etude%20pr%C3%A9dictive%20de%20fiabilit%C3%A9%20de%20nouveaux%20concepts%20d%E2%80%99assemblage%20pour%20des%20%C2%AB%20system-in-package%20%C2%BB%20h%C3%A9t%C3%A9rog%C3&rft.au=BARNAT,%20Samed&rft.genre=unknown


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