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dc.contributor.advisorLevi, Hervé
dc.contributor.authorBESTORY, Corinne
dc.contributor.otherGoguenheim, Didier
dc.contributor.otherHebrard, Luc
dc.contributor.otherMarc, François
dc.contributor.otherMuraro, Jean-Luc
dc.date2008-09-17
dc.date.accessioned2020-12-14T21:10:30Z
dc.date.available2020-12-14T21:10:30Z
dc.identifier.urihttp://ori-oai.u-bordeaux1.fr/pdf/2008/BESTORY_CORINNE_2008.pdf
dc.identifier.urihttps://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/21621
dc.identifier.nnt2008BOR13627
dc.description.abstractLa conception en vue de la fiabilité (DFR, Design for Reliability) consiste à simuler le vieillissement électrique des composants élémentaires pour évaluer la dégradation d'un circuit complet. C'est dans ce contexte de fiabilité et de simulation de cette dernière, qu'une stratégie de conception en vue de la fiabilité a été développée au cours de ses travaux. Cette stratégie, intégrant une approche « système » de la simulation, s'appuie sur l'ajout de deux étapes intermédiaires dans la phase de conception. La première étape est une étape de construction de modèles comportementaux compacts à l'aide d'une méthodologie basée sur une approche de modélisation multi niveaux (du niveau transistor au niveau circuit) des dégradations d'un circuit. La seconde étape consiste alors l'analyse descendante de la fiabilité de ce circuit, à l'aide de simulations électriques utilisant ses modèles comportementaux dits « dégradables », afin de déterminer les blocs fonctionnels et/ou les composants élémentaires critiques de l'architecture de ce dernier, vis-à-vis d'un mécanisme de défaillance et un profil de mission donnés. Cette analyse descendante permet aussi d'évaluer l'instant de défaillance de ce circuit. Les dispersions statiques, lies au procédé de fabrication utilisé, sur les performances d'un lot de CIs ont aussi été prises en compte afin d'évaluer leur impact sur la dispersion des instants de défaillance des circuits intégrés. Ces méthodes ont été appliquées à deux mécanismes de dégradation : les porteurs chauds et les radiations.
dc.description.abstractEnDesign for reliability (DFR) consists in assessing the impact of electrical ageing of each elementary component, using electrical simulations, on performance degradations of a full device. According to DFR concept and reliability simulation, theses works present a new DFR strategy. This strategy based on the integration of two intermediate phases in the ICs and SoC design flow. The first phase is a bottom-up ageing behavioural modelling phase of a circuit (from transistor level to circuit level). The second phase is a « top-down reliability analyses » phase of this circuit, performing electrical simulations using its ageing behavioural models, in order to determine critical functional blocks and / or elementary components of its architecture according to a failure mechanism and a given mission profile. Theses analyses also allow determining the failure time of this circuit. Statistical dispersions on ICs performances, due to the used manufacturing process, have been taking into account in order to assess their impact on failure time dispersions of a ICs lot. The method has been applied on two degradation mechanisms: hot carriers and radiations.
dc.language.isofr
dc.subjectConception en vue de la fiabilité
dc.subjectSimulation de Monte-Carlo
dc.subjectRadiation
dc.subjectDispersions technologiques
dc.subjectPorteurs chauds
dc.subjectModélisation comportementale
dc.subjectPrédiction de la durée de vie
dc.subjectFiabilité
dc.subject.enDesign for reliability
dc.subject.enRadiation
dc.subject.enHot carriers
dc.subject.enLife time prediction
dc.subject.enMonte-Carlo simulation
dc.subject.enStatistical process dispersion
dc.subject.enBehavioural modelling
dc.subject.enReliability
dc.titleDéveloppement de stratégies de conception en vue de la fiabilité pour la simulation et la prévision des durées de vie de circuits intégrés dès la phase de conception
dc.typeThèses de doctorat
dc.contributor.jurypresidentFouillat, Pascal
bordeaux.hal.laboratoriesThèses de l'Université de Bordeaux avant 2014*
bordeaux.institutionUniversité de Bordeaux
bordeaux.type.institutionBordeaux 1
bordeaux.thesis.disciplineElectronique
bordeaux.ecole.doctoraleÉcole doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde)
star.origin.linkhttps://www.theses.fr/2008BOR13627
dc.contributor.rapporteurAnghel, Lorena
dc.contributor.rapporteurDanto, Yves
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.title=D%C3%A9veloppement%20de%20strat%C3%A9gies%20de%20conception%20en%20vue%20de%20la%20fiabilit%C3%A9%20pour%20la%20simulation%20et%20la%20pr%C3%A9vision%20des%20dur%C3%A9es%&rft.atitle=D%C3%A9veloppement%20de%20strat%C3%A9gies%20de%20conception%20en%20vue%20de%20la%20fiabilit%C3%A9%20pour%20la%20simulation%20et%20la%20pr%C3%A9vision%20des%20dur%C3%A9es&rft.au=BESTORY,%20Corinne&rft.genre=unknown


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