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Susceptibility of an Analog Temperature Measurement Function: First Step to Optimize the IEMI Waveform

DUGUET, Antoine
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
DUBOIS, Tristan
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
DUCHAMP, Genevieve
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
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Langue
EN
Communication dans un congrès
Ce document a été publié dans
2024 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), 2024 14th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), 2024-10-07, Torino. 2024-11-06
Résumé en anglais
This contribution deals with the electromagnetic susceptibility of an electronic function based on the susceptibility of its components. The susceptibility of the electronic function has been measured and modeled from its ...Lire la suite >
Mots clés en anglais
Internet of Things
Intentional Electromagnetic Interferences
Component electromagnetic susceptibility
Electromagnetic susceptibility modelling
Bottom-up approach
URI
https://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/205724
DOI
Unités de recherche