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hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorANDRIAMONJE, Grégory
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorPOUGET, Vincent
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorOUSTEN, Yves
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorLEWIS, Dean
hal.structure.identifierLaboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
dc.contributor.authorDANTO, Yves
dc.contributor.authorRAMPNOUX, J. M.
dc.contributor.authorEZZAHRI, Y.
dc.contributor.authorDILHAIRE, S.
dc.contributor.authorGRAUBY, S.
dc.contributor.authorCLAEYS, W.
dc.contributor.authorROSSIGNOL, C.
dc.contributor.authorAUDOIN, Bertrand
dc.date.accessioned2023-05-11T05:34:03Z
dc.date.available2023-05-11T05:34:03Z
dc.date.issued2003
dc.identifier.issn0026-2714
dc.identifier.urihttps://oskar-bordeaux.fr/handle/20.500.12278/180974
dc.language.isofr
dc.publisherElsevier
dc.title.enApplication of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
dc.typeArticle de revue
dc.subject.halSciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
bordeaux.journalMicroelectronics Reliability
bordeaux.page1
bordeaux.volume1
bordeaux.hal.laboratoriesLaboratoire Ondes et Matière d'Aquitaine (LOMA) - UMR 5798*
bordeaux.institutionUniversité de Bordeaux
bordeaux.institutionCNRS
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-00181929
hal.version1
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-00181929v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Microelectronics%20Reliability&rft.date=2003&rft.volume=1&rft.spage=1&rft.epage=1&rft.eissn=0026-2714&rft.issn=0026-2714&rft.au=ANDRIAMONJE,%20Gr%C3%A9gory&POUGET,%20Vincent&OUSTEN,%20Yves&LEWIS,%20Dean&DANTO,%20Yves&rft.genre=article


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