Elaboration of a new pulsed laser system for SEE testing
CALIN, T.
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés [TIMA]
See more >
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés [TIMA]
CALIN, T.
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés [TIMA]
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés [TIMA]
VELAZCO, Raoul
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés [TIMA]
< Reduce
Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés [TIMA]
Language
en
Communication dans un congrès
This item was published in
IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW'98), 1998-07-06, Capri.
IEEE
English Abstract
This paper presents the elaboration of a new on-line single event effects testing facility based on a pulsed laser. Experimental choices and capabilities are detailed. Preliminary results confirm that the pulsed laser ...Read more >
This paper presents the elaboration of a new on-line single event effects testing facility based on a pulsed laser. Experimental choices and capabilities are detailed. Preliminary results confirm that the pulsed laser technique is a powerful complement for irradiation testing.Read less <
Origin
Hal imported