dc.contributor.author	HIRSCH, L.
hal.structure.identifier	Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
hal.structure.identifier	Laboratoire d'études de l'intégration des composants et systèmes électroniques [IXL]
dc.contributor.author	BARRIÉRE, A. S.
hal.structure.identifier	Centre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.author	SALARDENNE, J.
hal.structure.identifier	Institut de Chimie de la Matière Condensée de Bordeaux [ICMCB]
dc.contributor.author	REAU, J. M.
dc.date.issued	1998
dc.identifier.issn	0021-8979
dc.description.abstractEn	no abstract
dc.language.iso	en
dc.publisher	American Institute of Physics
dc.title.en	Electrical characterization of Ca1-xErxF2+x luminescent thin films
dc.type	Article de revue
dc.subject.hal	Physique [physics]
bordeaux.journal	Journal of Applied Physics
bordeaux.page	7813-7821
bordeaux.volume	83
bordeaux.issue	12
bordeaux.peerReviewed	oui
hal.identifier	hal-01550232
hal.version	1
hal.popular	non
hal.audience	Internationale
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Electrical characterization of Ca1-xErxF2+x luminescent thin films